金融界年12月5日消息，据国家知识产权局公告，上海伟测半导体科技股份有限公司取得一项名为“一种半导体测试机防呆装置“，授权公告号CNU，申请日期为年3月。

专利摘要显示，本实用新型揭示了一种半导体测试机防呆装置，包括底部框架、对接把手、连杆结构、运动模块、固定模块以及防误碰固件。本实用新型通过设置防误碰固件，当测试机台正常工作时，通过把手拉动滑杆，使得滑杆向上运动，将把手旋转一定角度，使得卡块与卡槽错位，松开手，把手固定在螺纹管上，运动模块在固定模块上来回滑动，当测试机台停止工作时，轻轻拉动把手并旋转，使得卡块与卡槽的位置相对应，松开手，螺纹管内部弹簧的弹力将滑杆弹回固定装置上的固定槽内，此时，即使误触到对接把手，运动模块与固定模块无法发生相对运动，锁定整个装置，避免由于误触以及误操作机台的对接装置，造成测试针痕异常和跪针的问题。

本文源自：金融界

作者：情报员